配备多台不同类型、不同功能透射电镜,包括配有双球差校正器、单色器及旋进电子衍射控制器的Spectra 300 S/TEM双球差校正透射电镜,配有JEOL自主研发的冷场发射电子枪及球差校正器的JEM-NEO ARM 200F球差校正透射电镜,以及多台肖特基场发射多功能高分辨透射电镜。电镜配有丰富的附件,包括多套用于成分分析的X射线能量色散谱仪(EDS)和电子能量损失谱仪(EELS)、数字成像系统(CCD)、扫描透射附件以及用于透射电镜原位分析及三维重构分析的样品杆等,通过成像、衍射、谱仪等实验手段,可实现材料高达原子分辨率的结构、成分分析,实现纳米尺度下的晶体取向分析、晶向分布分析、纳米区域/界面区域应变分析,还可以提供材料在外场环境(力、电、温度等)下的原位透射电镜微观动态分析等。结构技术组现有人员4人,其中博士4人;副研究员2人,联合培养硕士研究生多人;承担着多种型号透射电镜原理及操作培训。